摘要：

本文重點論述將合適的SPC技術應用于微生物數據分析的潛在好處。在一個典型的飲料生產過程，將洗瓶作為一個關鍵控制點，該控制點三個月內的微生物數據被收集并用來做回顧性地分析。該分析表明，SPC技術對于分析微生物數據的趨勢非常有效。事先預警信號清楚地反映在圖表上，指示出某一控制點將出現失控狀態(tài)。這個發(fā)現映證了這樣一個事實：通過應用SPC技術，可以有效防止關鍵控制點在衛(wèi)生檢驗中出現偏差。進一步來講，如果SPC中可以識別出現偏差的原因是隨機和非隨機的原因的技術被采用，整體的控制點的偏差量就會下降。這樣，從長遠來講，有益于提高衛(wèi)生管理和生產的效率。

關鍵詞：SPC    監(jiān)控    評估   衛(wèi)生數據

介紹：

在冷裝飲料生產加工系統(tǒng)中，瓶子殘渣和衛(wèi)生情況是一項非常重要的。不像“熱裝”飲料生產加工系統(tǒng)那樣，在“熱裝”操作中瓶子就同時被滅菌了，“冷裝”系統(tǒng)并不是這樣的。因此，用來裝飲料的瓶子需是完全干凈的以防止或最小化對成品的再污染，這是非常重要的。

關鍵的是引入“不清潔”的塑料瓶可能攜帶令人不滿的污垢和對成品的再污染的細菌，因此這可能會在產品的安全和保質期方面有反作用。即使瓶子經過清潔處理，它仍可能包含可能引起成品反面影響的微生物負載量。因此，洗瓶后的微生物對成品的安全衛(wèi)生至關重要。

我們的研究目的在于通過運用SPC的技術，來分析微生物數據，從而建立一個趨勢分析的系統(tǒng)，這樣一來，我們就可以得到一個控制點的預警信息，而不是僅僅判定控制點的狀態(tài)是否正常。

為了確保所選用的SPC圖表使用于對過程的研究，事先應對過程的可靠性進行評估以保證過程受控。研究中發(fā)現，當過程的可靠性指數CPK的值為1.00時，表明該過程是受控的。在此階段，由非隨機原因造成的偏差在可能情況下應被消除。

方法；

研究中的清洗瓶的微生物數據從某飲料廠獲得�？刂泣c為清洗后的瓶子，每次生產過程中都要測量控制點，對三個月收集的數據加以分析，用來建立起合理的趨勢分析方法。

因為這些細菌總數數據是自然分組的計量數據，對于得到的數據，應用均數—極差控制圖進行處理和分析。

結果：

三個月來清洗瓶控制點的細菌總數數據顯示在表1中。從表中無法發(fā)現這520個細菌總數數據有任何異常。

經過統(tǒng)計處理，52批次清洗瓶細菌總數的極差控制圖，見圖1。在極差控制圖中，顯示52組清洗瓶細菌總數數據的極差沒有異常。

      極差控制圖中：CL =36.19 UCL=64.31  LCL=8.07

 

經過統(tǒng)計處理，52批次清洗瓶細菌總數的均數控制圖，見圖2，在均數控制圖中，由于第49，50組清洗瓶細菌總數的均數均在C區(qū)，因此，顯示在第51組出現異常。（根據GB/T4091-2001標準的常規(guī)控制圖判異檢驗模式五）

 

 

     均數控制圖中：CL =16.46 UCL=27.60 LCL=5.32

 

在這里，均數控制圖清晰的給出了預警信息，預示第51批會出現偏差。換句話說，如果在第50 批或更早實施必要的糾偏措施完全可以預防這個偏差的出現。

討論：

HACCP體系中最基本的理念就是預防，SPC也是如此。將兩者結合，必然會增進這一理念。在這案例中，用的是趨勢分析方法。

在這次研究中，趨勢分析是采用了回顧調查的方法。它不可能找出第51批出現偏差/異常的誘因。然而，在實時監(jiān)控的情況下，通過與工作程序控制的結合，在第51批就應調查引起細菌總數均數異常的理由。無論是否非隨機或隨機原因所致。非隨機的原因可能是：消毒水配置濃度有誤、瓶子的污染、檢驗的失誤、結果誤讀等，隨機的原因可能是：消毒水濃度自然降低、操作員工的系統(tǒng)誤差。通過不斷消除可能造成偏差/異常的原因，出現偏差/異常的控制點就會減少。

傳統(tǒng)的微生物分析方法的弊病在于時效性差，往往是產品已經在超市貨架上銷售了，但分析還沒完成。SPC的技術為食品生產提供了實時的控制工具，為管理者提供了危害和偏差的預警。

本文的主要目的在于展示將SPC應用于HACCP衛(wèi)生數據分析中的潛在好處。為了更全面的評估其作用，建議更多的研究最好在現場即時的環(huán)境下進行。

結論：

應用SPC的兩個圖表來分析HACCP體系中一個控制點的微生物數據，可以更好地得到數據的趨勢情況。這項技術不僅僅反映出控制點狀態(tài)是否正常，還會將預警信號顯示在圖表上，以便管理者采取必要的糾偏措施，防止偏差危害的產生。SPC可使HACCP衛(wèi)生管理系統(tǒng)更為有效，從長遠來看，對生產效率的提高也非常有益。

參考文獻：

1、《常規(guī)控制圖標準》GB/T4091-2001

2、王毓芳、郝鳳主編：《常用統(tǒng)計技術（修訂版）》，北京：中國計量出版社，2002.07

3、Donald J. Wheeler 、David S. Chambers 《UNDERSTANDING STATISTICAL PROCESS CONTROL》